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Advances in Imaging and Electron Physics 99
Elsevier, Academic Press
Peter W. Hawkes (Eds.)
scale
electron
signal
layer
apds
optical
function
noise
multiplication
ionization
shown
voltage
thc
intensity
structuring
sagcm
experimental
ingaas
absorption
temperature
range
obtained
avalanche
edge
values
bias
functions
morphological
imaging
specimen
plane
wave
current
device
analysis
modeling
difference
breakdown
photodiodes
electrostatic
fiber
calculated
effect
electrons
maximum
biprism
contour
theoretical
diffraction
parameters
Année:
1997
Langue:
english
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english, 1997
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